廣東新邦智能設(shè)備有限公司
400-000-000
EL測(cè)試儀器
EL測(cè)試儀器應(yīng)用于太能能領(lǐng)域的電池片(硅片)與太陽(yáng)能組件的檢測(cè)
太陽(yáng)能EL測(cè)試儀器用于檢測(cè)太陽(yáng)能電池片（硅片）與組件的內(nèi)部缺陷，主要應(yīng)用于內(nèi)部硅片的：裂紋,黑心,黑邊,斷柵的測(cè)試
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型號(hào)規(guī)格
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可檢測(cè)類(lèi)型：電池片 /組件 （單晶 多晶 ）
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有效測(cè)試面積
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根據(jù)紅外相機(jī)及鏡頭有效成像距離確定
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分辨率
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紅外相機(jī)像素確定
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測(cè)試組件類(lèi)型
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單晶、多晶組件
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相機(jī)類(lèi)型
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CCD/CMOS
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輸出電壓
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0~100V直流電
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輸出電流
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0~10A
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電源參數(shù)
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根據(jù)所測(cè)組件實(shí)際參數(shù)確定
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曝光時(shí)間
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0—60秒可調(diào)
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可檢測(cè)缺陷
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有無(wú)隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池的異?，F(xiàn)象。
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- 上一條：EL檢測(cè)儀
- 下一條：太陽(yáng)能電池組件缺陷測(cè)試儀
